Основы анализа поверхности методами атомной физики

ОСНОВЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ И ТОНКИХ ПЛЕНОК. ЧАСТЬ I. 
АННОТАЦИЯ
    

Цель изучения дисциплины: подготовка специалиста, владеющего современными методами анализа материалов, основанными на измерении характеристик частиц и излучений, испускаемых твердым телом, при воздействии фотонов, рентгеновского излучения и при бомбардировке электронами или ионами; имеющего представления о  физических явлениях, лежащих в основе изучаемых методов.

Результаты обучения: приобретение компетенции в области физических процессов, лежащих в основе методов анализа поверхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры, переходах между энергетическими уровнями; процессах при распылении поверхности ионами, искровым разрядом, лазерным излучением; об электрон–электронных взаимодействиях и пробегах электронов и ионов в твердом теле; о дифракции электронов и рентгеновских лучей; приобретение навыки работы с масс-спектрометрическими, термо- и радиационно- десорбционными установками 
СТРУКТУРА КУРСА

ГЛАВА 1. СТРОЕНИЕ ПОВЕРХНОСТИ
ГЛАВА 2.  ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ОСОБЕННОСТИ  ДИАГНОСТИКИ ПОВЕРХНОСТИ
ГЛАВА 3. ЯВЛЕНИЯ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ  ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ
КУРСОВАЯ РАБОТА
Дисциплина (ы) ,
в которых используется данный курс 

Физика конденсированного состояния вещества
ООП  03.03.02 Физика
Уровень обучения                                       бакалавр
Семестр                                                        7-8

(216 /46 / 38 [3/3])         
Подразделение разработчик ЭОР
-
Разработчики ЭОР

-
ИНФОРМАЦИЯ ДЛЯ СВЯЗИ С ПРЕПОДАВАТЕЛЕМ

Никитенков Николай Николаевич, д.ф.-м.н., профессор 
Сыпченко Владимир Сергеевич, к.ф.-м.н., старший преподаватель   

Copyright ©2018.
Tomsk Polytechnic University, All rights reserved.
Уровень квалификации: Начальный