Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов
АННОТАЦИЯ

Курс «Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов» посвящен изучение физических основ сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены наиболее применяемые виды СЗМ, такие как сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), сканирующая  ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ). Особое внимание уделяется изучению устройства сканирующего зондового микроскопа и основным методикам работы на нем.

Знания, полученные при изучении курса, позволят студентам, специализирующимся в области материаловедения, оценивать морфологию поверхности и свойства исследуемых образцов, а также модифицировать поверхность для получения заданных свойств.

СТРУКТУРА КУРСА

Раздел 1. Основы сканирующей зондовой микроскопии

Раздел 2. Сканирующая туннельная микроскопия 

Раздел 3. Атомно-силовая микроскопия

Раздел 4. СБОМ, нанолитография

КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА

Сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, поверхность, зонд, кантилевер, пьезоэффект, сканер, туннельный эффект, литография, скан, разрешение.

Дисциплины ,
в которых используется данный курс

Технология изготовления объемных наноматериалов;

Научно-исследовательская работа в семестре;

Выпускная квалификационная работа магистра

ООП 22.04.01 Материаловедение и технологии материалов
Уровень обучения  магистратура
Семестр  3
Количество часов
(Всего / Аудиторные / СРС [кредиты])
216 / 64 / 152 [ 6 ]
Подразделение разработчик ЭОР Инженерная школа новых производственных технологий
Отделение материаловедения
Разработчики ЭОР

Панина Александра Анатольевна, доцент, 
Инженерная школа новых производственных технологий,
Отделение материаловедения

ИНФОРМАЦИЯ ДЛЯ СВЯЗИ С ПРЕПОДАВАТЕЛЕМ

Панина Александра Анатольевна

доцент

8-903-954-60-55

sonaa@tpu.ru

Copyright ©2017.
Tomsk Polytechnic University, All rights reserved.

Уровень квалификации: Начальный