Информация о курсе

Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок. Часть 2.

• Цель 2-й части: изучение теоретических основ электронно- и ионно- спектроскопических методов анализа, а также методов измерений механических свойств поверхности. Особое внимание уделяется взаимосвязи механических свойств поверхности с её химическим и фазовым составом.
• Результаты обучения: Приобрел компетенции в области физических процессов, лежащих в основе методов анализа поверхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры, переходах между энергетическими уровнями; процессах при распылении поверхности ионами, искровым разрядом, лазерным излучением; об электрон–электронных взаимодействиях и пробегах электронов и ионов в твердом теле; о дифракции электронов и рентгеновских лучей. Получил знания, которые помогут правильно определять набор необходимых методов анализа при решении конкретных инженерных и физических задач, встающих перед исследователем при работе.

Во второй части дисциплины изучаются модули:

Модуль 4 ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДОВ ИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ПОВЕРХНОСТИ

Модуль 5 ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДОВ ЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ПОВЕРХНОСТИ

Модуль 6.ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДОВ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ

1. Анализ поверхности и тонких пленок методами атомной физики.

2. Изотопный, химический и структурный анализ поверхности методами атомной физики.

210/86/124 [кредитов 4.5]

Никитенков Н.Н., Сыпченко В.С.

 Никитенков Николай Николаевич, д.ф.-м.н, проф-р ОЯФ ИЯТШ ТПУ

Телефон: вн:1502, моб:+7 913 852 6482

e-mail:nikienkov@tpu.ru

Сыпченко Владимир Сергеевич, к.ф.-м.н, ассистент ОЯФ ИЯТШ ТПУ

Телефон: вн:1502, моб:+7 913 852 6482

e-mail:sypchenko@tpu.ru

Copyright ©2018.
Tomsk Polytechnic University, All rights reserved.